phoenix nanome|x High-Resolution Nanofocus X-Ray Inspection System

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phoenix nanome|x High-Resolution Nanofocus X-Ray Inspection System

phoenix nanome | x是一種超高分辨率納米聚焦X射線檢測系統,用於檢查半導體和SMT行業的高質量組件和互連。 該系統具有出色的性能和多功能性,可以選擇用於二維X射線檢測,也可用於全3DCT斷層掃描(micro和nanoCT以及平面CT)。 具有phoenix x | act軟件包,phoenix nanome | x是確保滿足實際和未來零缺陷要求的首選系統。

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特點和優點
客戶利益:

  • 結合2D / 3D CT操作
  • 卓越的雙重檢測器技術(數字圖像鍊結和30 fps的主動溫度穩定數位檢測器),用于高輝度的實時圖像
  • 可實現檢查步驟的自動化
  • 卓越的易用性

主要特徵

  • 高倍率
  • 精準操縱
  • 重複性高
  • 180 kV / 15 W高功率開放納米聚焦管,具有高達200納米的細節檢測能力
  • 可升級到nanoCT®和/或平面CT

可選的

  • phoenix x | act軟件包,在CAD基礎下可輕鬆快速使用高分辨率自動X射線檢測(μAXI),具有高倍率和重複性,有極高的缺陷覆蓋率
  • 由於具有30 fps(每秒幀數)的高動態溫度穩定型數位GE DXR檢測器和主動冷卻,因此可以進行出色的實時檢測圖像
  • 10秒內進行3DCT斷層掃描
  • 通過diamond|window在相同的高圖像質量水平下,2倍快速獲取數據

公司簡介

帝仕高國際有限公司(Dynamite International Corp.)簡稱DIC,成立於西元1994年,以經營電子產業設備之銷售,技術服務與製程支援為基礎,進而提供客戶專業專精之生產設備及完整的產線規劃之公司。...

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