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planarCT Printed Circuit Board CT Scanner
联络我们主要特点和好处
与具有叠加特征的常规X射线检查相比，2D切片视图提供显着更好的结果质量
出色的图像质量和高放大倍率，可以覆盖较大的缺陷
通过GE 3D浏览器进行切片和ROI CT容积评估
可用于phoenix microme | x和nanome | x系统
已安装系统的升级选项•内部缺陷分析/ 3D定量孔隙度分析
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已安装系统的升级选项•内部缺陷分析/ 3D定量孔隙度分析
- 装配控制
- 材料结构分析
- 参考VDI 2630指南，3D计量精度规格为4 + L / 100μm
- 标称 - 实际CAD比较
- 尺寸测量/壁厚分析
- 逆向工程/刀具补偿
